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    Stability analysis for UTB GeOI 6T SRAM cells considering NBTI and PBTI
    Vita Pi-Ho Hu ; Chuang, Ching-Te ; et al.
    In: 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, 2015-04-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record at OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Electrostatic integrity and performance enhancement for UTB InGaAs-OI MOSFET with high-k dielectric through spacer design
    Lo, Chang-Ting ; Su, Pin ; et al.
    In: 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, 2015-04-01
    Online unknown
    Zugriff:
    View record at OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Electrostatic integrity and performance enhancement for UTB InGaAs-OI MOSFET with high-k dielectric through spacer design
    Hu, Vita Pi-Ho ; Sachid, Angada B. ; et al.
    In: 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, 2015
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in BASE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Stability analysis for UTB GeOI 6T SRAM cells considering NBTI and PBTI
    Hu, Vita Pi-Ho ; Fan, Ming-Long ; et al.
    In: 2015 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications, 2015
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in BASE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?

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