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    Improved sensitivity roll-off in dual reference, buffered spectral-domain optical coherence tomography
    David Odeke Otuya ; Tearney, Guillermo J. ; et al.
    In: Journal of Biomedical Optics, Jg. 26 (2021-02-10)
    Online unknown
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    Multi-reference global registration of individual A-lines in adaptive optics optical coherence tomography retinal images
    Do, Nhan ; Kurokawa, Kazuhiro ; et al.
    In: Journal of Biomedical Optics, Jg. 26 (2021-01-06)
    Online unknown
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    Direct comparison of line edge roughness measurements by SEM and a metrological tilting-atomic force microscopy for reference metrology
    Hirai, Akiko ; Kizu, Ryosuke ; et al.
    In: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS, Jg. 19 (2020-10-23)
    Online unknown
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    Line edge roughness measurement on vertical sidewall for reference metrology using a metrological tilting atomic force microscope
    Kizu, Ryosuke ; Misumi, Ichiko ; et al.
    In: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS, Jg. 19 (2020-03-23), S. 1-1
    Online unknown
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    Hyperspectral imaging of minerals in the longwave infrared: the use of laboratory directional-hemispherical reference measurements for field exploration data
    Szecsody, James E. ; Gallagher, Neal B. ; et al.
    In: Journal of Applied Remote Sensing, Jg. 13 (2019-09-23), S. 1-1
    Online unknown
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    Just-noticeable difference binary pattern for reduced reference image quality assessment
    Lee, Dah-Jye ; Miao, Xi-kui
    In: Optical Engineering, Jg. 58 (2019-09-19), S. 1-1
    Online unknown
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    Accurately and robustly estimating three-dimensional rigid transformation using an effective local reference frame
    Xi, Juntong ; Zhao, Bao ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 58 (2019-07-18), S. 1-1
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    Terra and Aqua MODIS TEB intercomparison using Himawari-8/AHI as reference
    Xiong, Xiaoxiong ; Angal, Amit ; et al.
    In: Journal of Applied Remote Sensing, Jg. 13 (2019-02-07), S. 1-1
    Online unknown
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    Process optimization of selective wet etching for fabrication of high-aspect-ratio and uniform multilayer grating reference materials
    Deng, Xiao ; Wang, Xingrui ; et al.
    In: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS, Jg. 17 (2018-12-05), S. 1-1
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Linewidth roughness of advanced semiconductor features using focused ion beam and planar-transmission electron microscope as reference metrology
    Takahashi, Satoru ; Ikota, Masami ; et al.
    In: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS, Jg. 17 (2018-09-08), S. 1-1
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Discrimination of human and nonhuman blood using Raman spectroscopy with self-reference algorithm
    Bian, Haiyi ; Wu, Xiaodong ; et al.
    In: Journal of Biomedical Optics, Jg. 22 (2017-09-21), S. 1-1
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Measuring self-aligned quadruple patterning pitch walking with scatterometry-based metrology utilizing virtual reference
    Bozdog, Cornel ; Kagalwala, Taher ; et al.
    In: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS, Jg. 15 (2016-10-25), S. 044004-44004
    Online unknown
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Future large-aperture UVOIR space observatory: reference designs
    Feinberg, Lee ; Jones, Andrew ; et al.
    In: Journal of Astronomical Telescopes, Instruments, and Systems, Jg. 2 (2016-09-15), S. 041214-41214
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Ultraclean wafer-level vacuum-encapsulated silicon ring resonators for timing and frequency references
    Xereas, George ; Chodavarapu, Vamsy P.
    In: Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS, Jg. 15 (2016-09-09), S. 035004-35004
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Spectral properties and surface uniformity of black glass gloss references
    Lumme, Kari ; Tuononen, Heikki ; et al.
    In: Optical Engineering, Jg. 48 (2009-03-01), S. 033603-33603
    Online unknown
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