Calibrating resistance and current measurements in C-AFM : Development of universal standard samples ; Développement de premières structures de référence pour l'étalonnage des mesures de résistance et de courant en microscopie à force atomique à sonde conductrice

Piquemal, François ; Morán-Meza, José A. ; et al.

In: 25ème Forum des microscopies à sondes locales ; https://centralesupelec.hal.science/hal-04569986 ; 25ème Forum des microscopies à sondes locales, Apr 2024, Lyon, France. Actes du 25ème Forum des microscopies à sondes locales (format pdf), 2024

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Titel:	Calibrating resistance and current measurements in C-AFM : Development of universal standard samples ; Développement de premières structures de référence pour l'étalonnage des mesures de résistance et de courant en microscopie à force atomique à sonde conductrice
Autor/in / Beteiligte Person:	Piquemal, François ; Morán-Meza, José A. ; Chrétien, Pascal ; Houzé, Frédéric ; Ulysse, Christian ; Harouri, Abdelmounaim ; Laboratoire National de Métrologie et d'Essais Trappes (LNE ) ; Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs) ; CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies (C2N) ; Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; Laboratoire de photonique et de nanostructures (LPN) ; Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS) ; European Project: EMPIR 20IND12,ELENA
Link:	View record in BASE (Volltext) https://centralesupelec.hal.science/hal-04569986/document Volltext
Zeitschrift:	25ème Forum des microscopies à sondes locales ; https://centralesupelec.hal.science/hal-04569986 ; 25ème Forum des microscopies à sondes locales, Apr 2024, Lyon, France. Actes du 25ème Forum des microscopies à sondes locales (format pdf), 2024
Veröffentlichung:	HAL CCSD, 2024
Medientyp:	Konferenz
Schlagwort:	Lyon France [SPI]Engineering Sciences [physics] Subject Geographic: Lyon France
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Document Type: conference object ; still image Language: English Relation: info:eu-repo/grantAgreement//EMPIR 20IND12/EU/Electrical nanoscale metrology in industry/ELENA; hal-04569986; https://centralesupelec.hal.science/hal-04569986; https://centralesupelec.hal.science/hal-04569986/document; https://centralesupelec.hal.science/hal-04569986/file/ActesForumMicroscopies_p154.pdf Rights: info:eu-repo/semantics/OpenAccess

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